当一束单色线偏振光照射在磁光介质薄膜表面时，部分光线将发生透射，透射光线的偏振面与入射光的偏振面相比有一转角，这个转角被叫做磁光法拉第转角(θF).而反射光线的偏振面与入射光的偏振面相比也有一转角，这个转角被叫做磁光克尔转角(θk)，这种效应叫做磁光克尔效应.磁光克尔效应包括三种情况:(1)纵向克尔效应，即磁化强度既平行于介质表面又平行于光线的入射面时的克尔效应;(2)极向克尔效应，即磁化强度与介质表面垂直时发生的克尔效应;(3)横向克尔效应，即磁化强度与介质表面平行时发生的克尔效应。

对于已经写入了信息的磁光介质，要读出所写的信息则需要利用磁光克尔效应来进行.具体方法是:将一束单色偏振光聚焦后照射在介质表面上的某点，通过检测该点处磁畴的磁化方向来辨别信息的"0"或"1"。例如，被照射的点为正向磁化，则在该点的反射光磁光克尔转角应为+θk，相反被照射的点为反向磁化，则在该点的反射光磁光克尔转角应为-θk。因此，如果偏振分析器的轴向恰好调整为与垂直于记录介质的平面成θk夹角，那么在介质上反向磁化点的反射光线将不能通过偏振分析器，而在介质的正向磁化处，反射光则可以通过偏振分析器。这表明反射光的偏振面旋转了2θk的角度.这样，如果我们在经过磁光介质表面反射的光线后方，在通过偏振分析器后的光路上安放一光电检测装置(例如光电倍增管)，就可以很方便地辨认出反射点是正向磁化还是反向磁化，也就是完成了"0"和"1"的辨认.可见，磁光克尔转角在磁光信息读出时扮演着十分重要的角色.如果把磁光介质附着在可旋转的圆盘表面，就构成了磁光盘.磁光盘旋转时，如果同时有单色偏振光聚焦在磁光盘表面，就可实现光线的逐点扫描，即信息被连续读出。

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